ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典 「少数キャリア」の解説 少数キャリア しょうすうキャリア minority carrier 少数担体。 半導体 中では電流を運ぶ キャリア として電子と 正孔 が共存している。このうち,数の少いほうのキャリアを少数キャリアと呼ぶ (→ 多数キャリア) 。 n型半導体 中の正孔, p型半導体 中の電子がこれにあたる。少数なのでバルク半導体中で電流を運ぶ役割にはほとんど寄与しないが, p-n接合 をもつ 半導体素子 の動作に重要な役割を果している。たとえば, トランジスタ の増幅作用はこの少数キャリアにになわれており, ダイオード の諸特性の多くが少数キャリアのふるまいによって決定される。 (→ キャリアの注入) 出典 ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典 ブリタニカ国際大百科事典 小項目事典について 情報 関連語をあわせて調べる ガリウムヒ素ショットキー・ダイオード ショットキー・バリア・ダイオード ショットキーダイオード バイポーラトランジスタ 静電誘導トランジスタ ドリフトトランジスタ 接合型トランジスタ
1 eV 、 ゲルマニウム で約0. 67 eV、 ヒ化ガリウム 化合物半導体で約1. 4 eVである。 発光ダイオード などではもっと広いものも使われ、 リン化ガリウム では約2. 3 eV、 窒化ガリウム では約3. 4 eVである。現在では、ダイヤモンドで5. 27 eV、窒化アルミニウムで5. 9 eVの発光ダイオードが報告されている。 ダイヤモンド は絶縁体として扱われることがあるが、実際には前述のようにダイヤモンドはバンドギャップの大きい半導体であり、 窒化アルミニウム 等と共にワイドバンドギャップ半導体と総称される。 ^ この現象は後に 電子写真 で応用される事になる。 出典 [ 編集] ^ シャイヴ(1961) p. 9 ^ シャイヴ(1961) p. 16 ^ "半導体の歴史 その1 19世紀 トランジスタ誕生までの電気・電子技術革新" (PDF), SEAJ Journal 7 (115), (2008) ^ Peter Robin Morris (1990). A History of the World Semiconductor Industry. IET. p. 12. ISBN 9780863412271 ^ M. Rosenschold (1835). Annalen der Physik und Chemie. 35. 半導体 - Wikipedia. Barth. p. 46. ^ a b Lidia Łukasiak & Andrzej Jakubowski (January 2010). "History of Semiconductors". Journal of Telecommunication and Information Technology: 3. ^ a b c d e Peter Robin Morris (1990). p. 11–25. ISBN 0-86341-227-0 ^ アメリカ合衆国特許第1, 745, 175号 ^ a b c d "半導体の歴史 その5 20世紀前半 トランジスターの誕生" (PDF), SEAJ Journal 3 (119): 12-19, (2009) ^ アメリカ合衆国特許第2, 524, 035号 ^ アメリカ合衆国特許第2, 552, 052号 ^ FR 1010427 ^ アメリカ合衆国特許第2, 673, 948号 ^ アメリカ合衆国特許第2, 569, 347号 ^ a b 1950年 日本初トランジスタ動作確認(電気通信研究所) ^ 小林正次 「TRANSISTORとは何か」『 無線と実験 』、 誠文堂新光社 、1948年11月号。 ^ 山下次郎, 澁谷元一、「 トランジスター: 結晶三極管.
Heilは半導体抵抗を面電極によって制御する MOSFET に類似の素子の特許を出願した。半導体(Te 2 、I 2 、Co 2 O 3 、V 2 O 5 等)の両端に電極を取付け、その半導体上面に制御用電極を半導体ときわめて接近するが互いに接触しないように配置してこの電位を変化して半導体の抵抗を変化させることにより、増幅された信号を外部回路に取り出す素子だった。R. HilschとR. W. 【半導体工学】キャリア濃度の温度依存性 - YouTube. Pohlは1938年にKBr結晶とPt電極で形成した整流器のKBr結晶内に格子電極を埋め込んだ真空管の制御電極の構造を使用した素子構造で、このデバイスで初めて制御電極(格子電極として結晶内に埋め込んだ電極)に流した電流0. 02 mA に対して陽極電流の変化0. 4 mAの増幅を確認している。このデバイスは電子流の他にイオン電流の寄与もあって、素子の 遮断周波数 が1 Hz 程度で実用上は低すぎた [10] [8] 。 1938年に ベル研究所 の ウィリアム・ショックレー とA. Holdenは半導体増幅器の開発に着手した。 1941年頃に最初のシリコン内の pn接合 は Russell Ohl によって発見された。 1947年11月17日から1947年12月23日にかけて ベル研究所 で ゲルマニウム の トランジスタ の実験を試み、1947年12月16日に増幅作用が確認された [10] 。増幅作用の発見から1週間後の1947年12月23日がベル研究所の公式発明日となる。特許出願は、1948年2月26日に ウェスタン・エレクトリック 社によって ジョン・バーディーン と ウォルター・ブラッテン の名前で出願された [11] 。同年6月30日に新聞で発表された [10] 。この素子の名称はTransfer Resistorの略称で、社内で公募され、キャリアの注入でエミッターからコレクターへ電荷が移動する電流駆動型デバイスが入力と出力の間の転送(transfer)する抵抗(resistor)であることから、J.
\(n=n_i\exp(\frac{E_F-E_i}{kT})\) \(p=n_i\exp(\frac{E_i-E_F}{kT})\) \(E_i\)は 真性フェルミ準位 でといい,真性半導体では\(E_i=E_F=\frac{E_C-E_V}{2}\)の関係があります.不純物半導体では不純物を注入することでフェルミ準位\(E_F\)のようにフェルミ・ディラック関数が変化してキャリア密度も変化します.計算するとわかりますが不純物半導体の場合でも\(np=n_i^2\)の関係が成り立ち,半導体に不純物を注入することで片方のキャリアが増える代わりにもう片方のキャリアは減ることになります.また不純物を注入しても通常は総電荷は0になるため,n型半導体では\(qp-qn+qN_d=0\) (\(N_d\):ドナー密度),p型半導体では\(qp-qn-qN_a=0\) (\(N_a\):アクセプタ密度)が成り立ちます. 図3 不純物半導体 (n型)のキャリア密度 図4 不純物半導体 (p型)のキャリア密度 まとめ 状態密度関数 :伝導帯に電子が存在できる席の数に相当する関数 フェルミ・ディラック分布関数 :その席に電子が埋まっている確率 真性キャリア密度 :\(n_i=\sqrt{np}\) 不純物半導体のキャリア密度 :\(n=n_i\exp(\frac{E_F-E_i}{kT})\),\(p=n_i\exp(\frac{E_i-E_F}{kT})\) 半導体工学まとめに戻る
MOS-FET 3. 接合形FET 4. サイリスタ 5. フォトダイオード 正答:2 国-21-PM-13 半導体について正しいのはどれか。 a. 温度が上昇しても抵抗は変化しない。 b. 不純物を含まない半導体を真性半導体と呼ぶ。 c. Siに第3族のGaを加えるとp形半導体になる。 d. n形半導体の多数キャリアは正孔(ホール)である。 e. pn接合は発振作用を示す。 国-6-PM-23 a. バイポーラトランジスタを用いて信号の増幅が行える。 b. FETを用いて論理回路は構成できない。 c. 演算増幅器は論理演算回路を集積して作られている。 d. 論理回路と抵抗、コンデンサを用いて能動フィルタを構成する。 e. C-MOS論理回路の特徴の一つは消費電力が小さいことである。 国-18-PM-12 トランジスタについて誤っているのはどれか。(電子工学) 1. インピーダンス変換回路はコレクタ接地で作ることができる。 2. FETは高入力インピーダンスの回路を実現できる。 3. FETは入力電流で出力電流を制御する素子である。 4. MOSFETは金属一酸化膜一半導体の構造をもつ。 5. FETはユニポーラトランジスタともいう。 国-27-AM-51 a. ホール効果が大きい半導体は磁気センサに利用される。 b. ダイオードのアノードにカソードよりも高い電圧を加えると電流は順方向に流れる。 c. p形半導体の多数牛ヤリアは電子である。 d. MOSFETの入力インピ-ダンスはバイポーラトランジスタに比べて小さい。 e. 金属の導電率は温度が高くなると増加する。 国-8-PM-21 a. 金属に電界をかけると電界に比例するドリフト電流が流れる。 b. pn接合はオームの法則が成立する二端子の線形素子である。 c. 電子と正孔とが再結合するときはエネルギーを吸収する。 d. バイポーラトランジスタは電子または正孔の1種類のキャリアを利用するものである。 e. FETの特徴はゲート入力抵抗がきわめて高いことである。 国-19-PM-16 図の回路について正しいのはどれか。ただし、Aは理想増幅器とする。(電子工学) a. 入力インピーダンスは大きい。 b. 入力と出力は逆位相である。 c. 反転増幅回路である。 d. 入力は正電圧でなければならない。 e. 入力電圧の1倍が出力される。 国-16-PM-12 1.
」 日本物理学会誌 1949年 4巻 4号 p. 152-158, doi: 10. 11316/butsuri1946. 4. 152 ^ 1954年 日本で初めてゲルマニウムトランジスタの販売開始 ^ 1957年 エサキダイオード発明 ^ 江崎玲於奈 「 トンネルデバイスから超格子へとナノ量子構造研究に懸けた半世紀 ( PDF) 」 『半導体シニア協会ニューズレター』第61巻、2009年4月。 ^ 1959年 プレーナ技術 発明(Fairchild) ^ アメリカ合衆国特許第3, 025, 589号 ^ 米誌に触発された電試グループ ^ 固体回路の一試作 昭和36(1961)年電気四学会連合大会 関連項目 [ 編集] 半金属 (バンド理論) ハイテク 半導体素子 - 半導体を使った電子素子 集積回路 - 半導体を使った電子部品 信頼性工学 - 統計的仮説検定 フィラデルフィア半導体指数 参考文献 [ 編集] 大脇健一、有住徹弥『トランジスタとその応用』電波技術社、1955年3月。 - 日本で最初のトランジスタの書籍 J. N. シャイヴ『半導体工学』神山 雅英, 小林 秋男, 青木 昌治, 川路 紳治(共訳)、 岩波書店 、1961年。 川村 肇『半導体の物理』槇書店〈新物理学進歩シリーズ3〉、1966年。 久保 脩治『トランジスタ・集積回路の技術史』 オーム社 、1989年。 外部リンク [ 編集] 半導体とは - 日本半導体製造装置協会 『 半導体 』 - コトバンク
夏になると蚊が多くなり刺されやすくなります。 もし刺されてしまっても、意外と簡単に家にあるものでかゆみは抑えることができるのです。 刺された後に跡ができないように処置して、肌に『シミ』が残らないようにしましょう! 最後までご覧いただきありがとうございました。 ABOUT ME
蚊アレルギーの症状は通常の虫刺されより強く、かなり酷い症状が全身に現れるので気を付けましょう。 蚊アレルギーの主な症状 全身が発熱してだるさがある 刺された部分がえぐれそうなほど腫れる リンパ節の腫れ 尿に血が混ざる 蕁麻疹が全身に現れる 蚊アレルギーが現れると全身に症状が現れて重症化してしまう場合があるので、腫れが全く引かなかったり突然熱が出てきたりしたときはすぐに病院へ行きましょう。 そして、人によっては命を落としてしまうほど症状が悪化するので、蚊に刺されたらアレルギー発症の有無に関わらず急いで応急処置を施すようにしてくださいね!
気候が暖かくなってくる6月頃から出現する憎きアイツ…… そう、 蚊です!!! 地域によっては、もっと早い時期に飛びまわっているのかもしれませんね。 蚊に刺されると、痒いわ腫れるわで大変です。 ようやく症状がおさまってきたとおもったら、今度は 蚊に刺されたところが茶色くなって跡になっていませんか? 個人差があって跡になる人・ならない人がいるようですが、私の場合はガッツリ跡になります。 掻こうが掻かなかろうが、ほぼ必ず跡になってしまうのです。 蚊に刺されの跡はなんだか格好わるいし、露出して外出するのは恥ずかしい! 早く蚊に刺されの跡を消したい一心で、私は様々な方法を試してきました。 実践してみて「効く!」と感じた方法を、あなたにもご紹介します。 スポンサーリンク 蚊に刺されの跡を消すにはどうしたらいい? 虫刺されの跡が固い？ずっとかゆいときの原因と対処法は？ | 気になる情報ブログ. 蚊に刺されると腫れや痒みがおさまった後、茶色くなったり黒ずんだり跡になってしまいます。 あの跡は、 日焼けやシミと同じ『色素沈着』 です。 蚊に刺されたことで肌が炎症を起こし、 メラニン色素 が増えてしまうのが原因なのだとか。 となれば 肌のターンオーバーを促して、新しい肌が生まれ変わらせる しかありません。 その為には、 肌をたっぷり保湿することが重要 です。 保湿することで肌機能を整えられれば、肌の再生も早まります。 逆に乾燥させてしまうとターンオーバーも遅れて、蚊に刺されの跡もなかなか消えませんので注意してくださいね。 しっかり丁寧に肌を保湿して正常に機能させることをおすすめします。 蚊に刺されの跡を早く消したい!おすすめの薬やコスメは? 蚊に刺されの跡を消すには、 肌のターンオーバーが重要 だとお伝えしました。 ということは、 色素沈着を改善してくれるものを患部に塗りこむのが最適!